產(chǎn)品詳情

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S-1

InnovateT5型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術(shù)，應用了日本濱松公司的CMOS信號采集元件，每塊CMOS都可以單獨設值火花個(gè)數，與光譜儀一流技術(shù)同步，采用真空光室設計及全數字激發(fā)光源。這款CMOS光譜儀，既包含了CCD光譜儀的全譜特性，又具備PMT光譜儀對非金屬元素的極低檢出限，整機設計合理，操作簡(jiǎn)單易學(xué)，具有數據精準，長(cháng)期穩定性好等優(yōu)點(diǎn)。

undefined 鑄造冶金機械加工消防金屬加工金屬材料質(zhì)量鑒定新材料開(kāi)發(fā) 其他

T5服務(wù)
CCD+CMOS全譜分析技術(shù)

全譜圖全譜譜線(xiàn)圖

豐富的譜線(xiàn)信息，分析靈敏線(xiàn)更多，保證分析的準確度；

基于全譜測量的數據，能夠正確區分背景和譜線(xiàn)，有效提高測量精度；

智能選擇*合適的靈敏線(xiàn)，通過(guò)多譜線(xiàn)結合技術(shù)，實(shí)現低中高含量段的檢測需求；

基于全譜測量數據的多峰擬合技術(shù)，有效消除譜線(xiàn)干擾，實(shí)現精確測量。

CMOS產(chǎn)品 undefined

CMOS線(xiàn)陣傳感器

獨創(chuàng )的實(shí)時(shí)智能漂移校正技術(shù)

在分析過(guò)程中實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜漂移校正，增強儀器穩定性；

減少標準化校正次數，延長(cháng)校正周期；

自動(dòng)完成儀器校正，操作更加簡(jiǎn)便。

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譜線(xiàn)漂移校正

獨特的CMOS檢測技術(shù)優(yōu)于CCD

CMOS相比CCD具有更高的靈敏度和響應速度；

CMOS相比CCD具有更好的線(xiàn)性度；

CMOS相比CCD具有極高的紫外光敏感度，在深紫外區如碳、磷、硫、硼、砷、氮等短波元素的檢測更準確。

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紫外元素強度對比

Innovate T5產(chǎn)品特點(diǎn)

國內CMOS全譜接收技術(shù)；

人性化一鍵激發(fā)，一鍵緊急停止；
一體化光室光學(xué)系統設計；
可編程脈沖全數字光源技術(shù)；
可分析Fe、Al、Cu、Zn、Ni、Ti、Mg、Co等多種基體；
波長(cháng)范圍140-680nm，可滿(mǎn)足更多元素的分析要求。

可選型號

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鑄造、冶金行業(yè)來(lái)料檢驗，爐前快速化驗

Innovate T5是分析黑色金屬及有色金屬成份的快速定量分析儀器。本儀器廣泛應用于冶金、機械及其他工業(yè)部門(mén)，進(jìn)行冶煉爐前的在線(xiàn)分析以及中心實(shí)驗室的產(chǎn)品檢驗，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段。

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金屬加工、機械制造
近年來(lái)，隨著(zhù)具有特殊機械性能和應用的新型合金材料層出不窮的問(wèn)世，金屬加工和機械制造相關(guān)行業(yè)對于合金元素的含量配置要求越來(lái)越高，涉及黑色金屬合金及有色金屬合金，這就給過(guò)程加工控制提出了更高的要求，Innovate T5型全譜直讀光譜儀能對金屬材料中化學(xué)元素成份作精確檢測；可對鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基等廣泛元素作精確定量!

Innovate T5型全譜直讀光譜儀具有分析精度高，檢出限低，分析速度快，可以提供為相關(guān)企業(yè)提供牌號識別及元素檢測，產(chǎn)品質(zhì)量控制等，其行業(yè)覆蓋為：

1、各種金屬零件加工；

2、鈑金、箱體、金屬結構；

3、鈦合金、高溫合金、非金屬等機械加工；

4、風(fēng)洞燃燒室設計制造；

5、非標設備設計制造。

6、模具設計制造。

汽車(chē)零部件加工、材質(zhì)檢測
汽車(chē)零部件主要以灰鑄鐵、球墨鑄鐵、不銹鋼、鋁合金材質(zhì)為主，材料檢測數據必須滿(mǎn)足檢測標準，隨著(zhù)光譜技術(shù)的不斷成熟與精進(jìn)，在質(zhì)控過(guò)程中，已取代傳統的化學(xué)分析方法，作為分析檢測的主流分析手段。

大專(zhuān)院校、科研
大專(zhuān)院校，科研機關(guān)對于新型金屬材料的課題研究同樣離不開(kāi)光譜儀的幫助；杰博科技Innovate T5型全譜直讀光譜儀可為科研人員提供更高置信度的質(zhì)量保證/質(zhì)量控制(QA/QC)測試結果.科研人員能夠專(zhuān)注于處理樣品, 儀器本身?yè)撈鹦阅茯炞C的職責，為提高實(shí)驗室效率和簡(jiǎn)化需遵守常規要求的生產(chǎn)過(guò)程。

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